絕緣電阻隨溫度升高而降低，漏電流隨溫度升高而增大，介電損耗復(fù)雜，可能隨溫度的變化而增大或減小。當(dāng)濕度增加時(shí)，絕緣電阻降低，絕緣表面的漏電流增加，介電損耗增加。

　　(1) 絕緣電阻

　　1、溫度的影響：溫度對(duì)絕緣電阻的影響很大。一般來(lái)說(shuō)，絕緣電阻隨著溫度的升高而降低。當(dāng)溫度升高時(shí)，絕緣介質(zhì)中的極化加劇，電導(dǎo)增大，導(dǎo)致電阻值下降，這與溫度變化的程度以及絕緣材料的性能和結(jié)構(gòu)有關(guān)。因此，在測(cè)量絕緣電阻時(shí)，必須將溫度記錄下來(lái)，以便換算成相同的溫度進(jìn)行比較。

　　2、濕度的影響：絕緣表面吸潮，瓷套表面形成水膜，往往會(huì)降低絕緣電阻。當(dāng)空氣中的相對(duì)濕度較高時(shí)，會(huì)吸收更多的水分，增加電導(dǎo)，同時(shí)也會(huì)降低絕緣電阻值。

　　(2) 漏電流

　　1、溫度的影響：直流漏電流測(cè)試與絕緣電阻測(cè)試相同，溫度對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響非常顯著。隨著溫度升高，漏電流增加。

　　2、濕度的影響：漏電流分為表面漏電流和體積漏電流。我們要測(cè)量的是體積泄漏電流。在惡劣天氣、表面臟污、潮濕的情況下，設(shè)備表面的漏電流非常大，甚至超過(guò)體積漏電流，導(dǎo)致漏電流測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。這時(shí)就必須采用屏蔽的方法來(lái)消除表面漏電流對(duì)漏電流測(cè)試的影響。

　　(3) 介電損耗（Tan Delta δ）

　　1、溫度的影響：介電損耗與溫度的關(guān)系比較復(fù)雜，低溫時(shí)電導(dǎo)損耗和極化損耗很小。隨著溫度的升高，極化損耗顯著增加，電導(dǎo)損耗略有增加，因?yàn)榕紭O子容易轉(zhuǎn)動(dòng)。在一定溫度下，總介電損耗達(dá)到最大值。當(dāng)溫度繼續(xù)升高時(shí)，分子熱運(yùn)動(dòng)阻止了偶極子在電場(chǎng)作用下的規(guī)則排列，極化損耗減小。雖然在這個(gè)階段電導(dǎo)損耗仍然增加，但增加幅度小于極化損耗的減少，因此整體效果降低。隨著氣溫的進(jìn)一步升高，電導(dǎo)損耗急劇增加，此時(shí)總損耗以電導(dǎo)損耗為主，同時(shí)也急劇增加。在這種情況下，tanδ隨溫度的變化趨勢(shì)與介質(zhì)損耗率隨溫度的變化是一致的。

　　2、濕度的影響：空氣中相對(duì)濕度的增加會(huì)增加絕緣設(shè)備表面的漏電流。由于絕緣設(shè)備表面的漏電流是電阻電流，所以tanδ會(huì)增加。如果長(zhǎng)期濕度過(guò)高，容易造成絕緣受潮，導(dǎo)致tanδ變大。